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L180渦流法測厚儀 Lee測厚儀

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更新時間：2015-06-14 08:06:01瀏覽次數：539次

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上海申方源儀器有限公司

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產品簡介

L-180測厚儀采用了渦流技術，是一種超小型測量儀，可無損地測量非磁性底材上的非磁性涂層厚度，可用于有色金屬(如銅、鋁、奧氏體不銹鋼等)上的所有絕緣層，如陽極氧化膜、油漆、涂料等的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量；該儀器堅固耐用、用途廣泛，可單手操作。

詳細介紹

L180涂層測厚儀詳細介紹 ：
    美國LEE INSTRUMENTS公司是專業生產涂層測厚儀的公司，產品精度高，穩定可靠，堅固耐用！一直為美國軍方和航空航天行業獨自使用，近年來美國才允許出口到國外！
    設計便攜耐用，使其能在苛刻條件下正常使用。具有一鍵操作功能，不用重設即可進行下一次測量，無需對操作人員進行培訓即可操作。
L180測厚儀功能：
    可進行零點校準及全量程校準。紅寶石防磨探頭。可對探頭進行基本校準。具有自動關機功能。操作過程有蜂鳴聲提示。有欠壓指示功能。有錯誤提示功能。
L180測厚儀技術指標：
*測量原理：渦流法
*測量范圍：1～1250μm
*測量準確度：±[（1～3）%H+1] μm（全量程校準）
*分辨率：1μm
*工件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5 / 凹 25 ；
           接觸zui小面積直徑10mm；
           基體臨街厚度0.05 mm
*使用環境：溫度0-60攝氏度；濕度 20%-75% ；無磁場環境
*電源：四節1.5伏AAA電池
*外形尺寸：112 ×69×28mm
*重量：82 g（不含電池）
標準配置：
主機（內置探頭）、標準鋁箔基體、7號電池、操作說明、儀器盒、掛繩