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成都中冷低溫科技有限公司
  • PCB老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試

    PCB老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:23:54 對(duì)比
    BiasHASTPCB老化試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化半導(dǎo)體芯片
  • HAST工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱

    HAST工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:17:18 對(duì)比
    zonglen桌面式溫度迫使系統(tǒng)高加速壽命試驗(yàn)箱HAST工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱
  • BiasHAST高加速壓力立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

    BiasHAST高加速壓力立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng),B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:16:26 對(duì)比
    BiasHAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)HAST測(cè)試機(jī)高加速老化立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)
  • HAST高加速老化試驗(yàn)箱

    HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:12:01 對(duì)比
    IGBT-HASTHAST試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化偏壓老化試驗(yàn)箱
  • 工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱HAST

    工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱HAST,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:07:01 對(duì)比
    IGBT-HASTHAST試驗(yàn)箱工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱高加速老化偏壓老化試驗(yàn)箱
  • BiasHAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試

    BiasHAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試,B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 16:05:54 對(duì)比
    BiasHAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)HAST測(cè)試機(jī)立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)
  • BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

    BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng),適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 15:49:29 對(duì)比
    BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)HAST測(cè)試機(jī)
  • 半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試PCB老化試驗(yàn)箱

    半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試PCB老化試驗(yàn)箱,HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性,這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/11/5 15:48:01 對(duì)比
    BiasHASTPCB老化試驗(yàn)箱HAST測(cè)試機(jī)高加速老化半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試
  • 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)

    芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng),高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/10/30 14:13:53 對(duì)比
    Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • 芯片 老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester

    芯片 老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester,高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/10/30 14:12:16 對(duì)比
    Small Burn-in Tester芯片 老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)

    Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng),高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/10/30 14:05:32 對(duì)比
    Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • 電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng),電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范,集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體,可按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/10/30 14:00:13 對(duì)比
    電阻 器件溫度系數(shù)導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng),電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范,集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體,可按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥11111更新時(shí)間:2024/10/30 13:45:18 對(duì)比
    器件溫度導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
  • 半導(dǎo)體冷熱測(cè)試一體機(jī) 循環(huán)制冷機(jī)chiller 水冷式工業(yè)冷水機(jī)

    半導(dǎo)體冷熱測(cè)試一體機(jī) 循環(huán)制冷機(jī)chiller ,應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中及測(cè)試環(huán)節(jié)的溫度控制,具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富功能的裝置。...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥8888更新時(shí)間:2023/10/8 15:39:26 對(duì)比
    半導(dǎo)體冷熱測(cè)試一體機(jī)半導(dǎo)體冷熱測(cè)試一體機(jī)半導(dǎo)體冷水機(jī)半導(dǎo)體模塊Chillerchiller
  • 半導(dǎo)體冷水機(jī)低溫冰水機(jī)Chiller ZL系列

    半導(dǎo)體冷水機(jī)低溫冰水機(jī)ChillerZL系列,主要應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中及測(cè)試環(huán)節(jié)的溫度控制,具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富功能的裝置。...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥8888更新時(shí)間:2023/10/8 15:33:40 對(duì)比
    半導(dǎo)體專用溫控裝置Chiller低溫冰水機(jī)半導(dǎo)體冷水機(jī)
  • zonglen半導(dǎo)體專用溫控裝置Chiller ZL系列 水冷式工業(yè)冷水機(jī)

    zonglen半導(dǎo)體專用溫控裝置Chiller ZL系列,主要應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中及測(cè)試環(huán)節(jié)的溫度控制,具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富...

    型號(hào): 所在地:成都市參考價(jià): ¥8888更新時(shí)間:2023/10/8 15:32:14 對(duì)比
    半導(dǎo)體專用溫控裝置Chiller

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