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BiasHAST偏壓老化測試系統，適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品...

半導體芯片BiasHAST測試PCB老化試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫...

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芯片 老化測試系統Small Burn-in Tester，高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶...

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電阻 器件溫度系數測試系統，電阻溫度系數測量系統是依據測試行業規范，集環境試驗參數控制、電阻性能測試、保護評估控制于一體，可按照國際標準規定的環境條件下對試驗樣...

器件溫度系數測試系統，電阻溫度系數測量系統是依據測試行業規范，集環境試驗參數控制、電阻性能測試、保護評估控制于一體，可按照國際標準規定的環境條件下對試驗樣品進行...