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美國ASI J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)

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更新時間:2022-06-16 11:14:58瀏覽次數(shù):670

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產(chǎn)品簡介

簡要描述:美國ASI J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)是一種用于化學多元素定性和定量分析的原子發(fā)射光譜,廣泛應用于刑偵、材料、地礦、考古、能源、環(huán)境、生態(tài)、農(nóng)業(yè)等對各領(lǐng)域。可用于固態(tài),液態(tài),氣態(tài)等樣品的檢測分析。

詳細介紹

品牌其他品牌應用領(lǐng)域化工,地礦,能源,航天

一、簡介

Russo博士于2004年創(chuàng)建了美國應用光譜(Applied Spectra,ASI)公司, ASI公司是一家專門研究激光剝蝕及光譜分析技術(shù)的高科技公司,研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室(Lawrence Berkeley National Laboratory)的科研人員。美國勞倫斯伯克利國家實驗室具有80多年LIBS技術(shù)的研究經(jīng)驗,致力于激光誘導等離子體光譜和剝蝕技術(shù)在化學分析領(lǐng)域的應用和開發(fā)。

美國ASI J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)是一種用于化學多元素定性和定量分析的原子發(fā)射光譜,廣泛應用于刑偵、材料、地礦、考古、能源、環(huán)境、生態(tài)、農(nóng)業(yè)等對各領(lǐng)域。可用于固態(tài),液態(tài),氣態(tài)等樣品的檢測分析。

二、美國ASI J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)技術(shù)優(yōu)勢

  • Q開關(guān),短脈沖Nd:YAG激光器,擁有各種不同波長、不同能量的飛秒或納秒激光器,可根據(jù)您的實際應用需求進行選購
  • 創(chuàng)新的模塊化系統(tǒng)為獨立的LA,LIBS,或LA – LIBS復合系統(tǒng)的配置設計
  • 滿足不同分析要求的三種LIBS檢測器選項,LIBS可配置雙檢測器
  • 系統(tǒng)傳感器,確保激光剝蝕一致性
    • 高度自動調(diào)整技術(shù)
    • 激光能量穩(wěn)定快門
  • 雙攝像機,一個專用于高倍成像,另一個用于樣品表面的廣角觀察
  • 應用光譜Flex樣品室?guī)в锌苫Q鑲嵌模塊,以優(yōu)化運輸氣體流量和顆粒沖刷性能
  • 緊湊型微集氣管設計,以消除脫氣和記憶效應
  • 雙路高精度數(shù)字質(zhì)量流量控制器和電子控制閥門
  • 系統(tǒng)軟件
    • 硬件部件的全面控制與測量自動化
    • 多功能取樣方法:全分析、微區(qū)&夾雜物分析,深度分析和元素成像
    • 用于LIBS和LA-ICP-MS分析的強大數(shù)據(jù)分析模塊
    • 用于判別和分類分析的LIBS化學計量軟件
  • 維護成本低
  • 升級為LA-LIBS復合系統(tǒng)簡單
  • 可升級為飛秒激光剝蝕

三、硬件特點

針對雙重LA/LIBS性能而設計的緊湊、模塊化系統(tǒng)

主體包括激光源、激光束傳輸光學器件、Flex樣品室、氣體流量控制系統(tǒng)以及LIBS檢測器。

自動調(diào)整樣品高度,保證激光剝蝕的一致性

考慮到樣品表面的形態(tài)變化,采用自動調(diào)高傳感器。可保持精確的激光聚焦,在所有采樣點上提供相同的激光能量,并在所有采樣點上實現(xiàn)一致的激光剝蝕。

具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室,以優(yōu)化氣流和微粒沖洗性能

根據(jù)測量目的(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等),有必要對樣品室的各個性能指標進行優(yōu)化,指標包括:沖洗時間、顆粒混合、樣品室內(nèi)的流動特性。Flex樣品室的設計能夠容納直徑為4英寸的樣品,使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調(diào)節(jié)氣流條件(層流和紊流)和微粒沖洗時間。此外,F(xiàn)lex樣品室的設計是為等離子體光提供一個好的視角,從而保證在激光剝蝕過程中進行靈敏的LIBS檢測。

創(chuàng)新集氣管設計

采用*的集氣管設計,限度地減少了脫氣,防止了任何燒蝕顆粒的堆積,并消除記憶效應。容易組裝,便于定期清潔輸氣管道。

高精度氣體流量控制系統(tǒng)

氣體控制系統(tǒng)使用兩個高精度、數(shù)字化質(zhì)量流量控制器(MFC)和電子控制閥,用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送,并精確控制氣流,防止等離子體火焰熄滅。預設配置可以選擇輸送氬氣、氦氣或補充氣體。

氣體流量控制系統(tǒng)

通過雙攝像頭和*照明實現(xiàn)樣品可視化

擁有*照明系統(tǒng)和高倍光學變焦(高達60X)功能,清晰呈現(xiàn)樣品的表面細節(jié)。配備雙高分辨率CMOS成像攝像機,提供廣角視野和高倍成像,以精確地研究精細區(qū)域(見下圖)。廣角視野視圖可以保存,并用于定位不同的樣品位置,使用高倍鏡研究樣品。

具有三種獨立的照明模式,提高圖像質(zhì)量和對比度:擴散式LED光源,透射光和同軸反射光,光的強度和顏色可控。

清晰、高倍放大的樣品表面圖像

同軸光線不同顏色和強度下的樣本圖像對比

三種LIBS檢測器可選,擴展了儀器功能

三種不同LIBS檢測器可選:(1)帶有ICCD攝像機的掃描Czerny Turner光譜儀;(2) 配備ICCD攝像機的中階梯光柵光譜儀;(3)同步六通道CCD光譜儀。做為獨立的LIBS儀器系統(tǒng),可同時配備任意兩種檢測器。雙檢測器開辟了新的LIBS檢測功能。

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